屏蔽罩是用来屏蔽电子信号的工具，作用就是屏蔽外界电磁波对内部电路的影响和内部产生的电磁波向外辐射。屏蔽罩的侧壁底面平整度、小件高度及小孔焊接缺陷会直接影响屏蔽效果，因此，对屏蔽罩进行检缺陷测是非常必要的。
检测项目
屏蔽罩平面高度、屏蔽罩小件高度、屏蔽罩小孔焊接缺陷、屏蔽盖定位
检测难点
金属材质，反光高，工件细小，纹理杂
检测方案
软件：HVVS 3D缺陷检测算法
硬件：3D线扫相机
检测结果
采用HV系列软件独特的2D+3D缺陷检测算法，可以检测屏蔽罩小件高度，定位屏蔽盖位置，检测小孔焊接缺陷，检测产品平整面高度，检测合格率≥97%
